#7437. 【基础】芯片测试 普及−

时间限制:1000 ms 内存限制:128 MiB 标准输入输出
题目类型:传统 评测方式:文本比较
上传者: 匿名

题目描述

有 n ( 2≤n≤20 )块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入格式

输入数据第一行为一个整数 n ,表示芯片个数。
第二行到第 n+1 行为 n*n 的一张表,每行 n 个数据。表中的每个数据为 0 或 1 ,在这 n 行中的第 i 行第 j 列( 1≤i, j≤n )的数据表示用第 i 块芯片测试第 j 块芯片时得到的测试结果, 1 表示好, 0 表示坏, i=j 时一律为 1 (并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例

样例输入1

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出1

1 3

数据范围与提示

【来源】
蓝桥杯基础训练